Docente de la FIUNI publica Artículo
El Ing. Oscar Trochez tuvo participación en la 8 Jornadas de Investigación y Desarrollo Tecnológico, Extensión, Vinculación y Muestra de la Producción que se realizó en la Facultad de Ingeniería – Universidad Nacional de Misiones-Argentina entre los días 21 al 24 de agosto de 2018.En este evento se publicó el artículo que se menciona a continuación.
Estudio de Fallas en Fuentes de Alimentación Conmutadas Debido al Estrés de los Capacitores Electrolíticos
Jorge Alberto Olsson1, Oscar Trochez2, Jorge Luis López1, Germán Andrés Xander1, Matías Gabriel Krujoski1, Lea Vanessa Santiago1, Héctor Rolando Anocibar1, Víctor Hugo Kurtz1.
1 Facultad de Ingeniería, Universidad Nacional de Misiones (UNaM), Oberá, Misiones, Argentina. 16 I142 Pequeñas Centrales Hidroeléctricas – Equipos y Sistemas
2 Facultad de Ingeniería, Universidad Nacional de Itapua, Encarnación Paraguay.
e-mails: olsson@fio.unam.edu.ar, eng.oscartrochez@gmail.com, lopezj@fio.unam.edu.ar, gaxander@fio.unam.edu.ar, krujoskimatias@fio.unam.edu.ar, anocibar@fiobera.unam.edu.ar, kurtzvh@fio.unam.edu.ar
Resumen
Este trabajo está enmarcado en un proyecto de investigación acreditado y tuvo como objetivo determinar las principales causas de fallas en fuentes conmutadas o switching. En un 83% de los casos analizados los resultados empíricos obtenidos indican que las fallas se debieron al estrés que soportan los capacitores utilizados como filtros. Los datos fueron obtenidos a partir de un seguimiento de servicios de mantenimientos electrónicos predictivo, preventivo y de reparación por fuera de servicio, esto fue comparado con la información de las hojas de datos de los fabricantes de capacitores, relacionándolos con sus condiciones de servicios por medio de simulación. La información obtenida permitió establecer la vida útil de los capacitores en las fuentes conmutadas, de acuerdo a sus condiciones de servicio y a la exigencia a las que son sometidas. Se concluyó que la determinación de la vida útil del capacitor frente al estrés, permite aportar datos para un adecuado proceso de fabricación, y utilización de productos, una correcta elección de los mismos de acuerdo a su destino y también facilita los datos necesarios para la implementación de adecuados protocolos de mantenimiento predictivo y correctivo en equipos electrónicos.